一：手动探针台用途：

　　探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。

　　手动探针台的主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。

　　手动探针台应用领域：

　　Failure analysis 集成电路失效分析

　　Wafer level reliability晶元可靠性认证

　　Device characterization 元器件特性量测

　　Process modeling塑性过程测试(材料特性分析)

　　IC Process monitoring 制成监控

　　Package part probing IC封装阶段打线品质测试

　　Flat panel probing 液晶面板的特性测试

　　PC board probing PC主板的电性测试

　　ESD&TDR testing ESD和TDR测试

　　Microwave probing 微波量测(高频)

　　Solar太阳能领域检测分析

　　LED、OLED、LCD领域检测分析

　　二：手动探针台的使用方式：

　　1.将样品载入真空卡盘，开启真空阀门控制开关，使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。

　　2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台，在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。

　　3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。

　　4.显微镜切换为高倍率物镜，在大倍率下找到待测点，再微调显微镜聚焦和样品x-y，将影像调节清晰,带测点在显微镜视场中心。

　　5.待测点位置确认好后,再调节探针座的位置,将探针装上后可眼观先将探针移到接近待测点的位置旁边,再使用探针座X-Y-Z三个微调旋钮,慢慢的将探针移至被测点,此时动作要小心且缓慢，以防动作过大误伤芯片，当探针针尖悬空于被测点上空时，可先用Y轴旋钮将探针退后少许，再使用Z轴旋钮进行下针，最后则使用X轴旋钮左右滑动，观察是否有少许划痕，证明是否已经接触。

　　6.确保针尖和被测点接触良好后，则可以通过连接的测试设备开始测试。