电测所用的勘探领域一般分为以下几类，将为您详细讲解

　　一、概述：

　　测试针是一种用于测试PCBA的探头，主要用作电信号的输入。

　　表面镀金，内部拥有高性能弹簧，平均寿命3万~10万次。

　　探针材料:W、ReW、A+

　　1.目前使用的材料主要有W和ReW，一般有弹性，易跑偏，粘有金屑，需要多次清洗，长期磨损损坏针具，使用寿命一般。

　　2、A+材质免清洗针，弹性好，测试不易跑偏，不粘金屑，免清洗，使用寿命长。

　　二、探针分类

　　探针可分为：

　　A、光电路板测试探针：未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针;

　　B、在线测试探头：在PCB电路板上安装组件后测试探头;

　　C、微电子测试探针：即晶圆测试或芯片IC测试探针;

　　三、探头的主要类型：悬臂式探头和立式探头。

　　悬臂探针：劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

　　垂直探针：垂直型(Vertical Type)

　　1.ICT探针 (ICT series Probes)

　　一般直径在2.54mm-1.27mm之间，有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目前应用较多的一种探针.

　　2.界面探针(Interface Probes)

　　非标准的探针

　　3.微型探针(MicroSeries Probes)

　　两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

　　4.开关探针(Switch Probes)

　　开关探针单独一支探针有两路电流.

　　5.高频探针(Coaxial Probes)

　　用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

　　6.旋转探针(Rotator Probes)

　　弹力一般不高，因为其穿透性本来就很强，一般用于OSP处理过的PCBA测试.

　　7.高电流探针(High Current Probes)

　　探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

　　8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

　　直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

　　9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

　　一般用于优化接触效果，稳定性好和寿命长