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探针分类详细介绍
时间:2022-01-12 11:34:44 阅读:12 来源:创始人

  电测所用的勘探领域一般分为以下几类,将为您详细讲解

  一、概述:

  测试针是一种用于测试PCBA的探头,主要用作电信号的输入。

  表面镀金,内部拥有高性能弹簧,平均寿命3万~10万次。

  探针材料:W、ReW、A+

  1.目前使用的材料主要有W和ReW,一般有弹性,易跑偏,粘有金屑,需要多次清洗,长期磨损损坏针具,使用寿命一般。

  2、A+材质免清洗针,弹性好,测试不易跑偏,不粘金屑,免清洗,使用寿命长。

  二、探针分类

  探针可分为:

  A、光电路板测试探针:未安装元器件前的电路板测试和只开路、短路检测探针;

  B、在线测试探头:在PCB电路板上安装组件后测试探头;

  C、微电子测试探针:即晶圆测试或芯片IC测试探针;

探针台

  三、探头的主要类型:悬臂式探头和立式探头。

  悬臂探针:劈刀型(Blade Type)和环氧树脂型(Epoxy Type)

  垂直探针:垂直型(Vertical Type)

  1.ICT探针 (ICT series Probes)

  一般直径在2.54mm-1.27mm之间,有业内的标准称呼100mil,75mil,50mil,还有更特别的直径只有0.19mm,主要用于在线电路测试和功能测试.也称ICT测试和FCT测试.也是目前应用较多的一种探针.

  2.界面探针(Interface Probes)

  非标准的探针

  3.微型探针(MicroSeries Probes)

  两个测试点中心间距一般为0.25mm至0.76mm.

  4.开关探针(Switch Probes)

  开关探针单独一支探针有两路电流.

  5.高频探针(Coaxial Probes)

  用于测试高频信号,有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的.

  6.旋转探针(Rotator Probes)

  弹力一般不高,因为其穿透性本来就很强,一般用于OSP处理过的PCBA测试.

  7.高电流探针(High Current Probes)

  探针直径在2.54mm-4.75mm之间.最大的测试电流可达39amps.

  8.半导体探针 (Semiconductor Probes)

  直径一般在0.50mm-1.27mm之间.带宽大于10GHz,50Ω characteristic

  9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)

  一般用于优化接触效果,稳定性好和寿命长