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TDR系列高温(加热)探针台

TDR系列探针台包括探针台面板,探针架,高精度探针定位器,恒温样品台,样品位移系统,显微成像系统等组成,模块化设计,后期方便升级满足不同应用要求最大可用于12寸以内样品测试探针台整体位移分辨率3μm,样品XYZR四维调节兼容多种光学显微镜,可以引入光路,完成光电mapping测试探针采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计PID控温,可加热至300℃,控温精度±1℃,有效区域温度均匀性±5℃1微米以上电极/PAD使用加宽探针架,可以放置6个DC探针座/4个RF探针座全系列搭配显微镜XY精密移动功能,可以选配多种位移行程以及驱动形式多被用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等
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  • 产品摘要

    TDR系列探针台包括探针台面板,探针架,高精度探针定位器,恒温样品台,样品位移系统,显微成像系统等组成,模块化设计,后期方便升级满足不同应用要求

    技术特点

    ◆最大可用于12寸以内样品测试

    ◆探针台整体位移分辨率3μm,样品XYZR四维调节

    ◆兼容多种光学显微镜,可以引入光路,完成光电mapping测试

    ◆探针采用进口交叉滚珠导轨,线性移动,无回程差设计

    ◆PID控温,可加热至300℃,控温精度±1℃,有效区域温度均匀性±5℃

    ◆1微米以上电极/PAD使用

    ◆加宽探针架,可以放置6个DC探针座/4个RF探针座

    ◆全系列搭配显微镜XY精密移动功能,可以选配多种位移行程以及驱动形式

    产品应用

    多被用于科研院校搭建测试系统,例:材料电学测试系统、光电探测器光电响应系统、光电Mapping测试系统、忆阻器与神经元系统等

    功能组件

    产品展示-官网_01

    规格参数

    TDR恒温加热探针台技术参数_01